晶振测试仪GDS-80系列

一、产品简介

晶振测试仪GDS-80系列是高性价比的晶振测试系统，采用网络分析技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。测量频率范围10KHz-200KHz,1MHz-200MHz，附USB接口进行数据通迅。

晶振测试仪GDS-80系列采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量高，速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL（ppm）、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0、频率牵引力Ts等参数测量功能，负载电容在1-200P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能网络分析技术运算克服了市场上晶振测试设备使用实体电容法测试差，无法测试电参数的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得更轻松。

依据标准：

SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数部分：用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法》；

SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数第二部分测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法》；

GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法》 ；

二、主要技术指标    

1.      中心频率范围： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意设定

2.      扫描范围：±1000ppm（默认±400ppm）  

3.      负载电容：1-200P 任意设定

4.      串联谐振频率Fs测量范围：±1000ppm（默认±400ppm）  测量：±5ppm

5.      串联谐振电阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K  （2±10%*R KΩ）

6.      负载电容CL测量范围：1-200PF

7.      时基误差：±1ppm 

8.      负载谐振频率FL测量：±2ppm+时基误差+0.5Pf*频率牵引力Ts

9.      配件：插件式100欧π网络测试座（标配），贴片式100欧π网络测试座（选配），插件式表晶测试座（选配），贴片式表晶测试座（选配），2520/3225/5032/7050贴片晶振适配套件（选配），通信软件（仅GDS-80P/S）。

三、GDS-80系列主要优势

①自动化测试，所测试的FL负载谐振频率（PPM）/等效电阻Rs/静电容C0等用于晶振合格判断的参数性测出，无需手动调整档位（部分同类型的仪器在测试不同参数时无法测出，每测一个晶体都需要手动切换档位）；

②PPM测试采用GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法》规定的网络分析方案，适配所有负载电容（而传统的实体电容法不适用于小负载电容的情况，并且由于实体电容法本身受限于电路的杂散电容无法估计的影响，无法调准，实体电容测试方案已淘汰） ；

③可以测出晶振的实际负载电容CL，给电路设计带来很大的方便；

④设置操作方便，所有设置都可以在电脑端进行；

⑤与晶振生产厂家所用的网络分析仪原理相同，更便于校对。