一、产品概述
智慧源晶振测试仪 GDS-80 是一款高性价比的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现智能化测量,符合 IEC-444 标准。其测试频率范围为 20KHz-100MHz,能够对晶振的多种关键参数进行全面、准确的测试,包括串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数和频率牵引力等。广泛应用于晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业等生产和科研领域。
二、优势
(一)全频段高效测试
GDS-80 实现 10kHz–100MHz 全频覆盖,适配从低频计时器到高频 5G 模块的全场景需求,一机覆盖全频段,无需多设备采购,综合成本降低 40%。
(二)九大参数同步测量
能够同步测量谐振频率(串联谐振频率 Fs、负载谐振频率 Fl)、阻抗特性(等效电阻 R1、负载电阻 RL、负载电容 CL)、动态性能(动态电容 C1、动态电感 L1、品质因数 Q 值、频率牵引力 TS)等九大参数。
(三)智能抗干扰设计
采用多级数字滤波技术,复杂工况下测试稳定性提升 80%;全金属屏蔽机身,通过 EMC Class B ,无惧电磁干扰。
(四)极速测试体验
多线程并行处理架构,单次测试仅需 0.25 秒;支持 500 组数据存储,一键导出 PDF/Excel 。
(五)全场景适配
宽温工作范围(-30℃~70℃),满足工业车间及实验室环境;可选配自动探针台,无缝对接 SMD 晶振产线检测。
三、技术参数
项目 | 规格 |
---|---|
测试频率范围 | 20KHz-100MHz |
负载电容 | 4-20pF |
负载谐振电阻 | 1Ω-300Ω,1K-300K |
PPM 范围测量 | ±300ppm,测量:<0.5ppm |
时基频率 | 16.384M |
晶振稳定性 | 2×10??/日 |
体积 | 80×235×305(mm) |
保修期 | 三年 |
四、使用说明
(一)开机准备
将晶振测试仪 GDS-80 连接电源,开机后等待设备自检完成,确保设备处于正常工作状态。
(二)连接晶振
根据被测晶振的类型和测试需求,将晶振正确连接到仪器的测试端口。仪器可适配不同封装的晶振,包括 SMD 封装(如 3225/5032 等)、插件晶振(如 HC-49/U/S)等。
(三)参数设置
在仪器的操作界面上,根据具体的测试要求设置相应的参数,如测试频率、负载电容等。仪器具备智能分析系统,可自动识别并适应不同的测量需求。
(四)开始测量
确认各项设置无误后,点击 “开始测量” 按钮,仪器将自动进行测量,并在屏幕上显示测量结果。测量过程中,仪器会实时采集数据,并进行分析处理。
(五)数据读取与保存
测量完成后,用户可以在仪器的屏幕上查看测量结果,包括串联谐振频率、负载谐振频率、等效电阻、负载电阻、负载电容、动态电容、动态电感、品质因数、频率牵引力等参数。通过 RS-232 接口或 USB 接口,可将测量数据上传至电脑进行数据管理和分析。
五、采购信息
价格:晶振测试仪 GDS-80 的参考价为 22800 元 / 台,具体成交价以合同协议为准。
订货量:≥1 台,可根据实际需求进行采购。
供货期:一般为 7-15 个工作日,具体以供应商确认为准。
智慧源 GDS-80 晶振测试仪以其高、多功能和智能化的特点,为晶振测试提供了全面的解决方案。无论是提升产线效率,还是保障产品品质,GDS-80 均为您的理想选择。立即联系智慧源,获取专属测试解决方案!